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簡要描述：XP205梅特勒XP205分析天平（量程220g，分辨率0.01mg）內(nèi)置QM工具箱,包括用戶管理和密碼保護(hù)、Z小稱量值功能、目標(biāo)稱量、統(tǒng)計功能、配方稱量、密度測定、百分比稱量、增強(qiáng)計件稱量、4個用戶可通過輸入數(shù)字字母登陸。
產(chǎn)品型號：XP205廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商更新時間：2025-09-15訪 問 量：1188產(chǎn)品分類
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| 品牌 | Mettler Toledo/梅特勒托利多 |
|---|
XP205梅特勒XP205分析天平
隨著超越系列XP天平的誕生, 梅特勒-托利多在分析天平領(lǐng)域樹立起了又一里程碑。*的技術(shù)帶來了的稱量性能，在人員，樣品和數(shù)據(jù)安全方面設(shè)置了新的標(biāo)準(zhǔn)。
規(guī)格 - XP205 分析天平
| zui大稱量范圍 | 220 g |
| 可讀性 | 0.01 mg |
| 線性 | 0.1 mg |
| 重復(fù)性 | 0.015 - 0.03 mg |
| 靈敏度（溫度漂移） | 1 x 10^-6/°C •Rnt |
| 秤盤尺寸 | 78 x 73 mm |
| 去皮范圍 | 0...220 g |
| 靈敏度精度 | 2.0 x 10^-6 •Rnt |
| 靈敏度穩(wěn)定性 | 1 x 10^-6/a •Rnt |
| 穩(wěn)定時間 | 1.5 s |
| 防風(fēng)罩可用高度 | 235 mm |
| 外部砝碼校準(zhǔn) | 用戶砝碼 |
| 內(nèi)部砝碼校準(zhǔn) | ProFACT專業(yè)全自動校準(zhǔn)技術(shù)專業(yè)級全自動校準(zhǔn)技術(shù), 溫度漂移和時間觸發(fā)的全自動內(nèi)校 |
| 尺寸 | 263x487x322 mm （DxH） |
| 接口 | RS-232C |
| Minimum weigh （typical acc. USP） | 21 mg |
| Minimum weigh （typical, U=1%, sd=2） | 1.4 mg |
| Sensitivity offset | 2x10-6·Rnt |
| 物料號 （s） | 11106024 |
| 商業(yè)名稱 | 11106024 |
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